电子元器件\微电子器件可靠性验证试验

 2022-04-22   阅读:61次    来源:深圳安车昇辉检测  

电子元器件\微电子器件可靠性验证

       可靠性试验是评价产品可靠性水平的重要手段。月前把测定、验证、评价、分析等凡是为提高产品可靠性而进行的试验,统称为可靠性试验。可靠性试验是开展产品可靠性工作的重要环节。
     可靠性试验一般是在产品的研究开发阶段和大规模生产阶段进行的。在研究开发阶段,可靠性试验主要用于评价设计质量、材料和工艺质量。在大规模生产阶段,可靠性试验的目的则是质量保证或定期考核管理。由于阶段不同,其月的和内容也不完全相同。

可靠性试验所要达到的目的,可归纳为如下三点∶
(1)通过试验来确定电子元器件的可靠性特性值。试验暴露出的在设计、材料、工艺阶段存在的问题和有关数据,对设计者、生产者和使用者都是非常有用的。
(2)通过可靠性鉴定试验,可以全面考核电子元器件是否已达到预定的可靠性指标。这是电子元器件新品设计定型必须进行的步骤。
(3)通过各种可靠性试验,了解产品在不同的工作、环境条件下的失效规律,摸准失效模式,搞清失效机理,以便采取有效措施,提高产品可靠性。

元器件覆盖范围:

半导体集成电路:时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、致模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;
半导体分立器件∶二极管、三极管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;
电阻器;电容器;磁珠;电感器;

变压器;晶体振荡器;晶体谐报器;

继电器;电连接器;开关及面板元件;

滤波器;电源模块;IGBT等。



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